介電常數及介質損耗測試儀

簡要描述：ZJD-C介電常數及介質損耗測試儀是根據GB/T 1409《測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內）下電容率和介質損耗因數的試驗方法》（等效采用IEC 60250）設計和制造的，并符合JB 7770等試驗方法。它適用于在高頻（1MHz）下絕緣材料的測試。

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更新時間：2025-07-20
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體積電阻率表面電阻率測定儀

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品牌	AIRTIMES/中航時代

_{ZJD-C介電常數及介質損耗測試儀}

_儀器介紹

_{ZJD-C介電常數及介質損耗測試儀是根據GB/T 1409《測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內）下電容率和介質損耗因數的試驗方法》（等效采用IEC 60250）設計和制造的，并符合JB 7770等試驗方法。它適用于在高頻（1MHz）下絕緣材料的測試。}

_技術參數

_{ZJD-C作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器，測試頻率上限達到目前高的160MHz。 ZJD-C采用了多項技術：} _{1 雙掃描技術 - 測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動調諧搜索功能。} _{2 雙測試要素輸入 - 測試頻率及調諧電容值皆可通過數字按鍵輸入。} _{3 雙數碼化調諧 - 數碼化頻率調諧，數碼化電容調諧。} _{4 自動化測量技術 -對測試件實施 Q 值、諧振點頻率和電容的自動測量。} _{5 全參數液晶顯示 – 數字顯示主調電容、電感、 Q 值、信號源頻率、諧振指針。} _{6 DDS 數字直接合成的信號源 -確保信源的高葆真，頻率的高精確、幅度的高穩定。} _{7 計算機自動修正技術和測試回路化 —使測試回路殘余電感減至zui低，* Q 讀數值在不同頻率時要加以修正的困惑。} _{ZJD-C的創新設計，無疑為高頻元器件的阻抗測量提供了*的解決方案，它給從事高頻電子設計的工程師、科研人員、高校實驗室和電子制造業提供了更為方便的檢測工具，測量值更為精確，測量效率更高。使用者能在儀器給出的任何頻率、任意點調諧電容值下檢測器件的品質，無須關注量程和換算單位。}
	_{主要技術特性}
_{Q 值測量范圍}	_{2 ～ 1023 ，量程分檔： 30 、 100 、 300 、 1000 ，自動換檔或手動換檔}
_固有誤差	_{≤ 5 ％ ± 滿度值的 2 ％（ 200kHz ～ 10MHz ）， ≤6％ ± 滿度值的2％（10MHz～160MHz）}
_工作誤差	_{≤7％ ± 滿度值的2％（ 200kHz ～ 10MHz ）， ≤8％ ± 滿度值的2％（10MHz～160MHz）}
_{電感測量范圍}	_{4.5nH ～ 140mH}
_{電容直接測量范圍}	_{1 ～ 200pF}
_{主電容調節范圍}	_{18 ～ 220pF}
_{主電容調節準確度}	_{120pF 以下 ± 1.2pF ； 120pF 以上 ± 1 ％}
_{信號源頻率覆蓋范圍}	_{100kHz ～ 160MHz}
_{頻率分段（虛擬）}	_{100 ～ 999.999kHz ， 1 ～ 9.99999MHz,10 ～ 99.9999MHz ， 100 ～ 160MHz}
_{頻率指示誤差}	_{3 × 10 -5 ± 1 個字}

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介電常數及介質損耗測試儀

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